(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202221591744.1 (22)申请日 2022.06.24 (73)专利权人 江苏伊施德创新科技有限公司 地址 214028 江苏省无锡市新区泰山路2号 国际科技 合作园 (72)发明人 熊焰明　 (74)专利代理 机构 无锡盛阳专利商标事务所 (普通合伙) 32227 专利代理师 顾朝瑞 (51)Int.Cl. G01R 31/12(2006.01) G01R 27/26(2006.01) G01R 1/073(2006.01) G01N 21/88(2006.01) G01N 21/01(2006.01)B65G 47/91(2006.01) (54)实用新型名称 一种电容测试包 装装置 (57)摘要 本实用新型提供了一种电容测试包装装置， 其能将电容装入 载盒后用于电容的测试、 外观检 测、 包装的一系列操作， 同时在将电容置于载盒 的过程中， 其相较于传统上料装置， 能够更快地 完成上料， 上料效率高。 其包括上料工位、 测试工 位、 外观检查及包装工位、 载盒下料工位和输送 装置， 输送装置连通上料工位、 测试工位、 外观检 查及包装工位和载盒下料工位并且用于输送载 盒， 上料工位安装有用于将载盒送至输送装置上 的载盒上料机构和用于将电容置入载盒中的电 容上料机构， 电容上料机构 包括振动上料装置和 上料吸头， 电容上料机构的数量大于一个并且沿 着输送装置依次布置， 每个电容上料机构具有多 个上料吸头。 权利要求书1页 说明书4页 附图3页 CN 218037157 U 2022.12.13 CN 218037157 U 1.一种电容测试包装装置， 其包括上料工位、 测试工位、 外观检查及包装工位、 载盒下 料工位和输送装置， 所述输送装置连通所述上料工位、 所述测试工位、 所述外观检查及 包装 工位和所述载盒下料工位并且用于输送载盒， 所述上料工位安装有用于将载盒送至所述输 送装置上的载盒上料机构和用于将电容置入所述载盒中的电容上料机构， 所述电容上料机 构包括振动上料装置和上料吸头， 所述测试工位安装有测试探针板， 每个测试探针板上连 接有多个与载盒中的电容位置相对应的探针， 其特征在于： 所述电容上料机构的数量大于 一个并且沿着所述输送装置依次布置， 每 个所述电容上 料机构具有 多个上料吸头。 2.根据权利要求1所述的一种电容测试包装装置， 其特征在于： 所述振动上料装置为柔 性振动盘。 3.根据权利要求1所述的一种电容测试包装装置， 其特征在于： 所述测试工位包括耐压 及绝缘电阻测试工位、 容量损耗测试工位， 每个测试工位分别设有对应的所述测试探针板 以及用于驱动所述测试探针板运动的驱动装置 。 4.根据权利要求1所述的一种电容测试包装装置， 其特征在于： 所述外观检查及包装工 位安装有用于检查电容外表的外观检查装置和用于包装电容的包装装置， 所述外观检查装 置包括顶面镜头、 底面镜头、 侧面镜头一、 侧 面镜头二和搬运装置， 所述搬运装置上安装有 吸头组用于将电容从载盒中取出并转移， 所述输送装置上方安装有所述顶面镜头， 所述吸 头组包括多个 吸头， 每个所述吸头与旋转机构连接用于旋转被 吸附的电子元件； 所述输送 装置的侧部安装有所述底面镜头、 所述侧面镜头一、 所述侧面镜头二、 不良品箱、 所述包装 装置， 所述搬运装置用于将取出 的电子元件转移至所述底面镜头的上方、 所述侧 面镜头一 的一侧、 所述侧 面镜头二的一侧， 所述搬运装置还用于将不合格的电子元件转移至所述不 良品箱、 将合格的电子元件转移至所述包 装装置。 5.根据权利要求4所述的一种电容测试包装装置， 其特征在于： 所述搬运装置包括搬运 装置一和搬运装置二， 所述底面镜头、 所述侧 面镜头一、 所述侧面镜头二和所述不良品箱、 所述包装装置之间设有中转台， 所述搬运装置一用于将电子元件转移至所述底面镜头、 所 述侧面镜头一、 所述侧面镜头二、 所述不良品箱后 将电子元件置于所述中转台； 所述搬运装 置二用于将存在于所述中转台上的电子元件转移至所述包 装装置。 6.根据权利要求5所述的一种电容测试包装装置， 其特征在于： 所述输送装置侧部由近 及远依次设有所述侧面镜头一、 所述底面镜头、 所述侧 面镜头二、 所述不良品箱、 所述中转 台、 所述包装装置； 所述侧 面镜头一、 所述侧 面镜头二位于同一高度， 所述搬运装置用于将 电子元件转移至所述侧面镜 头一和所述侧面镜 头二的中间。 7.根据权利要求1所述的一种电容测试包装装置， 其特征在于： 所述载盒上料机构和所 述载盒下 料工位分别位于所述输送装置的两端。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 218037157 U 2一种电容测试包装 装置 技术领域 [0001]本实用新型 涉及电容测试装置技 术领域， 具体为 一种电容测试包 装装置。 背景技术 [0002]在例如芯片电容 （单层电容） 等电容的批量测试、 筛选及包装的生产线中， 通常以 散料方式进入生产线， 以包装后的方式离开生产线。 生产线内通常包括散料芯片电容的上 料、 电性能测试、 外观检查、 包装等运行装置， 为尽量减少人工操作， 需要将这些功能集成在 一体化装置中。 [0003]其中， 电容的测试项 目一般包括耐压测试、 绝缘电阻测试以及容量、 损耗测试等， 现有技术也有采用先将电容置于一电容载盒中再以盒为单位进行测试等操作， 在测试时， 一般通过加电、 测试探针板下压使其探针压覆在载盒中的每个电容上来将电容接入至加 电、 测试电路中进 行加电或者测试， 这个过程一般持续时间较短， 一次即可测试一整盒的电 容， 测试效率高， 而在将电容上料至载盒中时， 现有技术中的上料装置例如公开号为 CN108761211A一种钽电容的后道 生产检测工艺及生产线的专利申请， 其通过空料盘输送机 构将料盘送至轨道输送机构 中， 上料时则采用振动盘将电容振动送料至送料轨道中， 再通 过吸盘逐颗将电容转移至料盘中， 相较于测试过程， 上料过程反倒需要大量时间， 当上料、 测试集成在一体化装置中时， 即使通过上述测试手段提高了测试效率， 也仍需等待吸头逐 个将电容置入载盒并在载盒摆满后再对下一盒电容进 行测试， 从而导致整体装置的效率不 够理想。 实用新型内容 [0004]针对现有电容测试装置， 其上料效率低的问题， 本实用新型提供了一种电容测试 包装装置， 其能将电容装入载盒后用于电容的测试、 外观检测、 包装的一系列操作， 同时在 将电容置 于载盒的过程中， 其相较于传统上 料装置， 能够更 快地完成上 料， 上料效率高。 [0005]其技术方案是这样的： 一种电容测试包装装置， 其包括上料工位、 测试工位、 外观 检查及包装工位、 载盒下料工位和输送装置， 所述输送装置连通所述上料工位、 所述测试工 位、 所述外观检查及包装工位和所述载盒下料工位并且用于输送载盒， 所述上料工位安装 有用于将载盒送至所述输送装置上的载盒上料机构和用于将电容置入所述载盒中的电容 上料机构， 所述电容上料机构包括振动上料装置和上料吸头， 所述测试工位安装有测试探 针板， 每个测试探针板上连接有多个与载盒 中的电容位置相对应的探针， 其特征在于： 所述 电容上料机构的数量大于一个并且沿着所述输送装置依次布置， 每个所述电容上料机构具 有多个上料吸头。 [0006]其进一步特征在于： [0007]所述振动上 料装置为 柔性振动盘； [0008]所述测试工位包括耐压及绝缘电阻测试工位、 容量损耗测试工位， 每个测试工位 分别设有对应的所述测试探针板以及用于驱动所述测试探针板运动的驱动装置；说　明　书 1/4 页 3 CN 218037157 U 3